X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。
1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪,至60年代本法在分析领域的地位得以确立。
名称 | 最新价 | 涨跌 |
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高线 | 3920 | - |
热轧平板 | 4620 | - |
低合金中板 | 4090 | - |
镀锌管 | 5390 | - |
槽钢 | 4080 | - |
热镀锌卷 | 5140 | - |
热轧卷板 | 11300 | - |
冷轧无取向硅钢 | 5000 | - |
圆钢 | 3840 | - |
硅铁 | 6600 | 100 |
低合金方坯 | 3580 | - |
铁精粉 | 890 | - |
二级焦 | 2360 | - |
铝锭 | 20550 | -60 |
中废 | 2085 | 0 |
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