质子激发X射线荧光分析基本信息

中文名称	质子激发X射线荧光法	外文名称	PIXE,Proton Induced X-ray Emission

质子激发X射线荧光分析实验装置

质子X 射线荧光分析的主要实验装置包括:①加速器，一般用质子静电加速器，选用能量为1~3 兆电子伏的质子，在此能量范围内，质子激发X射线的产额高，灵敏度高;质子的能量再高时，将会引起许多核反应，使本底增大;能量再低时，质子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室(或称散射室)，是分析样品放置处，其中有特制的样品架，并且包括质子束准直系统、均束装置和集束装置，有探测窗连接探测器，靶室和真空系统相连接。③X 射线能谱分析仪，常用硅(锂)能谱仪。在质子束照射下，样品发射出的特征X 射线穿过铍窗、空气层和吸收片，进入硅(锂)能谱分析仪。这种谱仪在一次测量中可以记录样品中所有可分析元素的特征X 射线谱，配合电子计算机，可进行在线分析，直接给出各元素的含量。

质子激发X射线荧光分析造价信息

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质子激发X射线荧光分析X射线谱

在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X 射线谱，能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种，并已编制成计算机程序。从解X 射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积(峰计数)，根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。

在实际分析工作中多采用相对测定法，即将试样和标样同时分析比较，

设试样和标样中待测元素的特征X 射线谱峰计数为NX 和NS，含量为Wx 和WS则得:

Wx=NxWs/Ns

质子激发X射线荧光分析原理

基本原理是用高速质子照射样品，质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层，留下空穴，较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X 射线。用探测仪器探测和记录这些特征X 射线谱，根据特征X 射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类，根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。

质子激发X射线荧光分析常见问题

X射线荧光光谱分析的结构

X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...

x射线荧光光谱分析仪的优缺点有哪些

优点：原装进口电制冷探测器，可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素，精度高、测量时间短，它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域特点：1. 同时分析元素周期表中由钠（Na...

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别？

x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。

原子荧光光度计与X射线荧光光谱仪区别

尽管二者都是把物质激发后检测其荧光，但二者的区别很大，从大的方面看主要有两点：一、激发光源不同。原子荧光用的光源很多，如各种激光等，但很少见有用X-射线的；而X-射线荧光则是用X-射线作激发光源。二、...

X射线荧光光谱仪仪器,听说对身体有辐射,我该如何是好?

亲，第一，X射线荧光光谱仪是属于三类射线装置，而且离你的工作地点有2米的距离，基本到你那里已经没有多少了，你可以放心工作；第二，国家目前对辐射安全方面管理很严格，如果你单位有这个射线装置，按照环保部的...

质子激发X射线荧光分析非真空分析技术

质子X 射线荧光分析一般在真空中照射样品(称作真空分析或内束技术)，但也发展了一种非真空分析技术(或称外束技术)，即将质子束从真空室中引出，在空气(或氦气)中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷(质子电荷)而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用，可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。

X射线荧光分析选型误区

随着技术发展，X射线荧光分析仪的种类越来越多，商品名称也比较混乱，再加上用户对相关知识的了解有限，使得用户合理选择仪器的难度大大增加。

X射线荧光分析仪器分类

根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。

通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。

根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。

就能量色散型仪器而言，根据选用探测器的不同，X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。

根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称 呼多用于能量色散型仪器。

在波长色散型仪器中，根据可同时分析元素的多少可分为，单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。

X射线荧光分析仪技术参数

分析原理			能量色散X射线荧光分析法
分析元素			Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
			Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
样品室气氛			大气
X射线管	靶材		Rh
	管电压		最大50KV
	管电流		最大1mA
X射线照射径			1/3/5mm
防护			<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)
检测器			硅SIPIN探测器
光学图像观察			倍率15倍
软件			定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)
			照射径:1/3/5mm
			定量分析:基础参数法/标准法/1点校正
计算机		CPU	PentiumIV1.8GHz以上
		内存	256MB以上
		硬盘	20GB以上
		OS	WindowXP
监视器			17寸LCD
周围温度			10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度)
周围湿度			5~31C时温度范围:最大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下
电源			AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗电力			1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)
设备重量			约65kg(不含桌子、计算机)
外形寸法			600(W)×545(D)×435(H)mm

备注：数据仅供参考，不作为投资依据。